Quando i compiti di regolazione sono complessi, si impiegano spesso prodotti delle famiglie di telecamere lineari e a matrice con tecnologia CCD e C-MOS realizzate da E+L le quali, oltre a rilevare bordi con molta più precisione, possono anche, a seconda del caso applicativo, esplorare il nastro contemporaneamente per più eventi in base ai quali avviene poi la regolazione.
Il riconoscimento di difetti superficiali, relativi a struttura e intensità cromatica, è ulteriormente completato dal vastissimo spettro di applicazioni. Inoltre, nel settore delle misurazioni tramite laser, offriamo la misurazione di larghezza, spessore e profilo.
Illuminazione
Illuminazione in campo chiaro e campo scuro, sia con luce continua che con flash allo xenon o a LED, e con tempi di esposizione nella fascia inferiore del microsecondo, consentono misurazioni di altissima precisione anche a velocità delle macchine di 1000 m/min.